RTK如何進(jìn)行間接測量?圖文步驟教程來啦
發(fā)布時(shí)間：2022-11-12 10:21:05
RTK如何進(jìn)行間接測量?我們?cè)谑褂肦TK進(jìn)行測量作業(yè)的時(shí)候，會(huì)遇到需要測量的點(diǎn)觀測條件不理想的情況，這時(shí)候，我們就可以借助間接測量功能，通過測量附近其他點(diǎn)的坐標(biāo)從而解算出需要測量點(diǎn)的坐標(biāo)。CORS賬號(hào)網(wǎng)小編收集整理了RTK間接測量圖文步驟教程，下面就以中海達(dá)RTK為例來詳細(xì)介紹一下吧。
1、進(jìn)入間接測量功能界面
中海達(dá)RTK配套的是Hi-Survey測量軟件，我們進(jìn)入Hi-Survey，依次點(diǎn)擊“工具”-“間接測量”進(jìn)入間接測量界面。
2、選擇測量模式設(shè)置參數(shù)
(1)選擇測量模式
在間接測量界面，提供了四點(diǎn)已知、兩點(diǎn)兩線、兩點(diǎn)一線、兩點(diǎn)兩角、兩點(diǎn)線角、偏心點(diǎn)、兩圓相交、線圓相交、圓弧取點(diǎn)等九種測量模式，我們可以點(diǎn)擊每個(gè)圖標(biāo)進(jìn)入對(duì)應(yīng)測量模式。
選擇四點(diǎn)已知測量模式：
已知ABCD四點(diǎn)坐標(biāo)，其中ABP三點(diǎn)共線，CDP三點(diǎn)共線，待求點(diǎn)P即為兩線的交點(diǎn)。
選擇兩點(diǎn)兩線測量模式：
已知AB兩點(diǎn)坐標(biāo)和兩點(diǎn)到待求點(diǎn)P的距離L1、L2。注意: L1+L2必須大于AB間的距離且|L1-L2|必須小于AB間的距離。
選擇兩點(diǎn)一線測量模式：
已知AB,求P。注意: ABP三點(diǎn)共線。L1為P點(diǎn)到B點(diǎn)的距離，若P點(diǎn)位于從A到B的延長線上時(shí)，L1為正;若P點(diǎn)位于從B到A的延長線上時(shí)，L1為負(fù)。
選擇兩點(diǎn)兩角測量模式：
已知AB兩點(diǎn)坐標(biāo)，兩點(diǎn)與待求點(diǎn)P的夾角a、β。注意: a+β大于0°且小于180"，采集時(shí)三點(diǎn)位置注意對(duì)應(yīng)。
選擇兩點(diǎn)線角測量模式：
已知AB兩點(diǎn)坐標(biāo)和夾角a, A點(diǎn)到待求點(diǎn)P的距離L1,求P點(diǎn)坐標(biāo)。注意: a為AB逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)至AP的夾角。
選擇偏心點(diǎn)測量模式：
已知A點(diǎn)，以及AP距離和AP的方位角，輸入垂距(oZ=Za-Zp) ,求偏心點(diǎn)P。
選擇兩圓相交測量模式：
已知兩圓圓心A和B坐標(biāo)，兩圓半徑R1和R2，求P1和P2。
選擇線圓相交測量模式：
已知AB和圓心C坐標(biāo)，圓半徑R,求P1和P2。
選擇圓弧取點(diǎn)測量模式：
已知AB坐標(biāo)，轉(zhuǎn)角角度/弧度a,半徑R，求P。
注意事項(xiàng)：其中兩點(diǎn)兩線、兩點(diǎn)兩角和兩點(diǎn)線角這三種方法按理論定出 P 有兩個(gè)位置，如果按順序先輸入 A 點(diǎn)位置的坐標(biāo)再輸入 B 點(diǎn)位置的坐標(biāo)，則 P點(diǎn)就位于 AB 連線的上方;如果先輸入 B 點(diǎn)位置的坐標(biāo)再輸入 A 點(diǎn)位置的坐標(biāo)，則 P 點(diǎn)就位于 AB 連線的下方。
(2)設(shè)置參數(shù)
在上述的各種間接測量方法中，選擇已知點(diǎn)的“ID”，輸入間接測量點(diǎn)坐標(biāo)(可以手動(dòng)輸入，或從接收機(jī)、坐標(biāo)庫、圖上讀取)，輸入其它已知要素(例如：L1、L2 等)
3、待求點(diǎn)的坐標(biāo)
以上參數(shù)設(shè)置完成后，點(diǎn)擊點(diǎn)擊【計(jì)算】，計(jì)算出待求點(diǎn)“P”的坐標(biāo)，點(diǎn)擊【保存】，輸入點(diǎn)名、圖例描述等信息，將結(jié)果保存到坐標(biāo)點(diǎn)庫中。
小貼士：
在間接測量作業(yè)中，點(diǎn)擊 GPS 采點(diǎn)時(shí)，提示精度信息(精度設(shè)置在配置中進(jìn)行)，方便了解實(shí)時(shí)精度。
以上就是關(guān)于RTK如何進(jìn)行間接測量的全部圖文步驟教程了，僅供大家參考。
1、進(jìn)入間接測量功能界面
中海達(dá)RTK配套的是Hi-Survey測量軟件，我們進(jìn)入Hi-Survey，依次點(diǎn)擊“工具”-“間接測量”進(jìn)入間接測量界面。
2、選擇測量模式設(shè)置參數(shù)
(1)選擇測量模式
在間接測量界面，提供了四點(diǎn)已知、兩點(diǎn)兩線、兩點(diǎn)一線、兩點(diǎn)兩角、兩點(diǎn)線角、偏心點(diǎn)、兩圓相交、線圓相交、圓弧取點(diǎn)等九種測量模式，我們可以點(diǎn)擊每個(gè)圖標(biāo)進(jìn)入對(duì)應(yīng)測量模式。
選擇四點(diǎn)已知測量模式：
已知ABCD四點(diǎn)坐標(biāo)，其中ABP三點(diǎn)共線，CDP三點(diǎn)共線，待求點(diǎn)P即為兩線的交點(diǎn)。
選擇兩點(diǎn)兩線測量模式：
已知AB兩點(diǎn)坐標(biāo)和兩點(diǎn)到待求點(diǎn)P的距離L1、L2。注意: L1+L2必須大于AB間的距離且|L1-L2|必須小于AB間的距離。
選擇兩點(diǎn)一線測量模式：
已知AB,求P。注意: ABP三點(diǎn)共線。L1為P點(diǎn)到B點(diǎn)的距離，若P點(diǎn)位于從A到B的延長線上時(shí)，L1為正;若P點(diǎn)位于從B到A的延長線上時(shí)，L1為負(fù)。
選擇兩點(diǎn)兩角測量模式：
已知AB兩點(diǎn)坐標(biāo)，兩點(diǎn)與待求點(diǎn)P的夾角a、β。注意: a+β大于0°且小于180"，采集時(shí)三點(diǎn)位置注意對(duì)應(yīng)。
選擇兩點(diǎn)線角測量模式：
已知AB兩點(diǎn)坐標(biāo)和夾角a, A點(diǎn)到待求點(diǎn)P的距離L1,求P點(diǎn)坐標(biāo)。注意: a為AB逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)至AP的夾角。
選擇偏心點(diǎn)測量模式：
已知A點(diǎn)，以及AP距離和AP的方位角，輸入垂距(oZ=Za-Zp) ,求偏心點(diǎn)P。
選擇兩圓相交測量模式：
已知兩圓圓心A和B坐標(biāo)，兩圓半徑R1和R2，求P1和P2。
選擇線圓相交測量模式：
已知AB和圓心C坐標(biāo)，圓半徑R,求P1和P2。
選擇圓弧取點(diǎn)測量模式：
已知AB坐標(biāo)，轉(zhuǎn)角角度/弧度a,半徑R，求P。
注意事項(xiàng)：其中兩點(diǎn)兩線、兩點(diǎn)兩角和兩點(diǎn)線角這三種方法按理論定出 P 有兩個(gè)位置，如果按順序先輸入 A 點(diǎn)位置的坐標(biāo)再輸入 B 點(diǎn)位置的坐標(biāo)，則 P點(diǎn)就位于 AB 連線的上方;如果先輸入 B 點(diǎn)位置的坐標(biāo)再輸入 A 點(diǎn)位置的坐標(biāo)，則 P 點(diǎn)就位于 AB 連線的下方。
(2)設(shè)置參數(shù)
在上述的各種間接測量方法中，選擇已知點(diǎn)的“ID”，輸入間接測量點(diǎn)坐標(biāo)(可以手動(dòng)輸入，或從接收機(jī)、坐標(biāo)庫、圖上讀取)，輸入其它已知要素(例如：L1、L2 等)
3、待求點(diǎn)的坐標(biāo)
以上參數(shù)設(shè)置完成后，點(diǎn)擊點(diǎn)擊【計(jì)算】，計(jì)算出待求點(diǎn)“P”的坐標(biāo)，點(diǎn)擊【保存】，輸入點(diǎn)名、圖例描述等信息，將結(jié)果保存到坐標(biāo)點(diǎn)庫中。
小貼士：
在間接測量作業(yè)中，點(diǎn)擊 GPS 采點(diǎn)時(shí)，提示精度信息(精度設(shè)置在配置中進(jìn)行)，方便了解實(shí)時(shí)精度。
以上就是關(guān)于RTK如何進(jìn)行間接測量的全部圖文步驟教程了，僅供大家參考。
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